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高精度特种薄膜与镀膜分析

薄膜制造商和供应商需要高度精确且能足够高效实施的分析解决方案,以便实现高水平的持续质量控制同时不影响分析通量。薄膜广泛地用作光学镀膜并应用于半导体中,并且根据应用不同需要较高的透射率和反射率质量与控制。

Cary 7000 通用分光光度计 (UMS) 能够从完全相同的位置测量透射率和折射率,避免由不同的测定角度和位置引起的系统误差,从而实现卓越的薄膜分析。Cary 7000 UMS 的高精度和始终如一的多角度分光光度性能极其有益于薄膜应用和质量控制过程,尤其是在多层薄膜应用中,数据自动采集功能具有更高的分析效率。