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硅片分析

实现硅晶片制造过程中准确高效的污染物分析

安捷伦的仪器融合了新一代超高灵敏度技术,可帮助半导体制造商在生产过程中的每个阶段执行检测并最大程度减少污染。我们推出的 7700 ORS 技术和行业领先的 8800 ICP-MS/MS 仪器即使在最高基质环境下,也可对晶片制造的每个阶段中的金属杂质类型、来源和含量进行精密高效的检测。

安捷伦自动化样品处理和数据处理工具有助于确保高效的痕量污染物检测,对维持稳定的产量至关重要。我们还可在直接制程中进行化学分析,确保降低测试过程中的污染风险。此外,安捷伦经验丰富的工程师们将作为硅晶片制造仪器的坚实后盾,提供全方位的技术支持。